準備中
工学部中央棟5階 XMA室機器の構成、型式等：
日本電子(JEOL)製 JXA-8900M原理：
附属機器：蒸着装置、ダイヤモンドカッター、研磨機、パーソナルコンピューター(MAC)、プリンタ
0.2〜40keVの電子線を試料に当てて発生する特性Ｘ線を検出し、試料表面の元素を定性的、又は定量的に測定する。各点における測定結果より、任意の一線上の区間もしくは、ある一面における元素分析をみることができる。また、走査型電顕としての機能もあり、2次電子(SEM)像、反射電子（組成、および凹凸）像も同時に観測でき、これらと、元素分布像の関連を明確にとらえることができる。分析例を機器分析センターニュース(1994)で紹介しました。ご参照下さい。機器の性能：
分析元素範囲 B〜U利用方法：
Ｘ線分光器：波長分散形(WDS) 3基（結晶 6枚）、エネルギー分散形(EDS) 1基
測定、利用対象となる試料名：金属材料、鉱物、触媒、ガラス、セラミック等、不揮発性の固体
Ｘ線作業従事者登録（庶務係扱い）を済ませた後、初心者講習（１、２カ月に１回：不定期）を受けてから利用していただきます。講習を受けた後もマニュアルを参照しながら進めてください。講習会、利用料金等は、下記に問い合わせてください。問い合わせ先：
工学部化学システム工学科 亀山研究室 内線7156、7656（生産機械棟2階）
Mail To :tatkame@cc.tuat.ac.jp